955027-КХ К 82 Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия [Текст] : [учеб. для вузов по спец. "Физика металлов" и "Металловедение, оборуд. и технология терм. обработки металлов"] / [Я. С. Уманский и др.]. - М. : Металлургия, 1982. - 631 с. : ил. - Библиогр.: с. 628-361. - ISBN 5-КР-РЕ-ЭЛ-82 : 1.40 р. Авт. указаны на обороте тит. л. Рубрики: Рентгенография--Учебники и пособия Электронная микроскопия--Учебники и пособия Держатели документа: ООПБ Доп.точки доступа: Уманский, Я. С.; Скаков, Ю. А.; Иванов, А. Н.; Расторгуев, Л. Н. Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
А7715-КХ М 59 Микроанализ и растровая электронная микроскопия [Текст] / [Ж. Филибер, Ж. Фонтен, Э. Викарио и др.] ; под ред. Ф. Морис и др., пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой, под ред. [и с предисл.] И. Б. Боровского. - Москва : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.), 392-403. - Предм. указ.: с. 404-407. - ISBN 5-МИ-РА-ЭЛ-85 : 5.10 р. Авт. указаны в огл. Рубрики: Электронная микроскопия Держатели документа: ООПБ Доп.точки доступа: Филибер, Ж.; Фонтен, Ж.; Викарио, Э.; Морис, Ф. \под ред.\; Стельмакова, Г. Д. \пер. с фр.\; Боровский, И. Б. \под ред., и с предисл.\ Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
А116632-КХ О-75 Основы аналитической электронной микроскопии [Текст] / Д. Е. Ньюбури, Дж. М. Каули, Д. Б. Вильямс и др.; под ред. Дж. Дж. Грена и др. - Москва : Металлургия, 1990. - 583, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 576-578. - ISBN 5-229-00375-5 : 7.40 р. Рубрики: Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Ньюбури, Д. Е.; Каули, Дж. М.; Вильямс, Д. Б.; Грен, Дж. Дж. \ред.\ Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
915988-КХ П 69 Практические методы в электронной микроскопии [Текст] / [П. Дж. Гудхью [и др.] ; под ред. О. М. Глоэра, пер. с англ. под ред. В. Н. Верцнера. - Ленинград : Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1980. - 375 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-ПР-МЕ-ЭЛ-80 : 2.10 р. Перевод изд.: Practical methods in electron microscopy (Amsterdam etc.). Авт. указаны в огл. Рубрики: Электронная микроскопия Держатели документа: ООПБ Доп.точки доступа: Гудхью, П. Дж.; Бистон, Б. Е. П.; Хорн, Р. В.; Маркхэм, Р.; Глоэр, Одри М. \ред.\; Верцнер, В. Н. \пер., ред.\ Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
А45448-КХ С 71 Спенс, Джонс. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения [Текст] : переводное издание / Д. Спенс ; пер. с англ. под ред. В. Н. Рожанского. - Москва : Наука, 1986. - 319, [1] с. : ил. - ). - ISBN 5-ЭК-ЭЛ-МИ-СП : 3.70 р. Рубрики: Электронная микроскопия Держатели документа: ООПБ Доп.точки доступа: Рожанский, В. Н. \пер. с англ. под ред.\ Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |