Родионов, Б. Н. Сканирующие зондовые микроскопы для нанотехнологий [Текст] / Б. Н. Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии XXI века. - 2008. - N7(14 июля.). - С. 54 - 56. Рубрики: Техника и технические науки--Промышленное оборудование--Зондовые микроскопы Аннотация: Сканирующие зондовые микроскопы могут использоваться не только для изучения поверхностей с атомарной точностью, но и для измерения электрических и магнитных полей, для обработки вещества и т. п. Экземпляры всего: 1 ПТО (1) Свободны: ПТО (1) |